Surface Analysis: The Principal Techniques

"Surface Analysis: The Principal Techniques" von Ian S. Gilmore ist ein umfassendes Werk, das sich mit den verschiedenen Methoden der Oberflächenanalyse beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die wichtigsten Techniken zur Untersuchung von Oberflächen und Grenzflächen, die in zahlreichen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen relevant sind. Die Autoren erklären grundlegende Prinzipien und Einsatzmöglichkeiten von Methoden wie der Rastertunnelmikroskopie (STM), Rasterkraftmikroskopie (AFM), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS). Jede Methode wird ausführlich beschrieben, einschließlich ihrer theoretischen Grundlagen, praktischen Anwendungen sowie Vor- und Nachteile. Das Buch richtet sich an Wissenschaftler, Ingenieure und Studierende, die in Bereichen wie Materialwissenschaften, Physik, Chemie oder Nanotechnologie tätig sind. Es dient sowohl als Lehrbuch für Einsteiger als auch als Referenzwerk für erfahrene Forscher. Durch Beiträge zahlreicher Experten bietet es einen aktuellen Überblick über den Stand der Technik in der Oberflächenanalyse.