Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications (INTERNATIONAL SERIES OF MONOGRAP...

Dieses Buch, verfasst von Nicola M. Reed, bietet eine gründliche und detaillierte Einführung in die Prinzipien und Anwendungen der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) - eine wichtige analytische Technik in der Materialwissenschaft. Das Buch ist in zwei Hauptteile gegliedert: Der erste Teil behandelt die Grundlagen und Prinzipien von SIMS, einschließlich der Interaktion von Ionen mit Materie, der Erzeugung sekundärer Ionen und ihrer Nachweisbarkeit. Der zweite Teil des Buches konzentriert sich auf die vielfältigen Anwendungen dieser Methode in verschiedenen wissenschaftlichen Bereichen, wie z.B. Oberflächenanalyse, Tiefenprofilierung und Isotopenanalyse. Es wird auch auf spezifische technische Aspekte eingegangen, wie die Verwendung unterschiedlicher Ionenquellen oder Massenspektrometer. Dieses umfassende Werk ist sowohl für Wissenschaftler als auch für Studenten geeignet, die sich einen fundierten Überblick über diese komplexe analytische Technik verschaffen möchten.